頻率及高低周試驗，測試模塊主要是用來測試低周減載和高周切機等保護(hù)的各項功能。根據(jù)其功能，將這個模塊分成了六個測試單元。

測試項目全面，包含了幾乎所有的頻率及高低周保護(hù)。

頻率能夠下滑進(jìn)行低周減載測試，也能夠上滑進(jìn)行高周試驗。

試驗界面說明

測試項目：
有“動作頻率”“動作時間”“df/dt 閉鎖”“dv/dt“低電壓閉鎖”以及“低電流閉鎖”等六個測試項目。根據(jù)需要，能夠選擇其中的一個或者多個進(jìn)行試驗。選擇多個測試項目時，不在上這一個測試項目測試完畢后，下一個測試項目測試對象名稱中包含“低周保護(hù)”“頻”“電器”“低頻電器”以及“高電器”“低周保”。

試驗參數(shù)：

頻率變化前延時在變量的每個變化過程中，裝置先以額定頻率50Hz輸出，維持至“頻率變化前延時”結(jié)束，然后再開始變化。該項在有些保護(hù)測試是非常有用，能夠用來等待保護(hù)頻率閉鎖后解除閉鎖。測試間斷時間每一次試驗結(jié)束后裝置將停止輸出至“測試間斷時間”結(jié)束，再進(jìn)入下一次試驗整定值各測試功能頁中均有整定值輸入框，這些整定值大多在試驗期間并不起作用，只是在試驗后起到參考對比作用。根據(jù)需要自行設(shè)定。試驗測得”的“測試值”與“整定值”進(jìn)行比較后，得出一個相對誤差，從而反映保護(hù)的性能。

動作頻率：

動作頻率測試范圍動作頻率測試范圍的測試始值和終值均應(yīng)設(shè)置在動作頻率附近。測試始值應(yīng)大于保護(hù)整定動作值，測試終值小于整定動作值，動作頻率的測試方法:測試時頻率分兩階段變化開始以50Hz輸出，經(jīng)過變化前延時后，先按所設(shè)定的df/dt 均勻下滑(或上滑)至測試始值頻率，然后按設(shè)定的步長以一定時間間隔逐格降低(或上升)頻率，在該過程中如保護(hù)動作，則測出動作值。

如未動作首資化至測安終值，即認(rèn)為保護(hù)采公場作而結(jié)策該項測試。這里逐格變頻的時間間隔是根據(jù)整定的動作時間自動確定的，。故整定動作時間應(yīng)設(shè)置正確，以保證在變化時間間隔內(nèi)保護(hù)有足夠時間能夠動作。做低周減載試驗一般測試范圍小于 50Hz，做高周切機試驗一般測試范圍大于 50Hz。例如:，-48Hz，。測試始值和終值不能設(shè)置得太小(一般應(yīng)不低于 45Hz)，否則保護(hù)將閉鎖。

動作時間：

動作時間測試的方法:頻率從始值(一般為50Hz)下滑至終值并等待動作。該終值應(yīng)略小于動作頻率值以確保裝置動作，但測試動作時間的計時器是從所設(shè)定的“開始計時點的頻率”處開始計時，故該值若有偏差將影響時間測量精度。試驗過程見右圖·開始計時的頻率點測動作時間時，應(yīng)特別注意正確設(shè)置“開始計時點的頻率”。一般設(shè)置為裝置整定的動作頻率，或測試出的準(zhǔn)確動作頻率值。

df/dt 閉鎖：
 df/dt 測試范圍：

測試“df/dt 閉鎖值”時，在此范圍內(nèi)逐點進(jìn)行試探測試，每次測試時都從頻率始值下滑(或上滑)至終值，下滑(或上滑)的 df/dt 值在該范圍內(nèi)逐點變化試探至某一輪試驗至保護(hù)動作，則測出此時的 df/dt 閉鎖的邊界值因為保護(hù)在大于整定的 df/dt 值下滑時閉鎖，所以，一般變化始值應(yīng)設(shè)置為大于保護(hù)整定的閉鎖值，變化終值應(yīng)設(shè)置為小于保護(hù)整定的閉鎖值，即測試保護(hù)從不動作到動作，測出保護(hù)的 df/dt 閉鎖值。頻率變化范圍每輪試驗頻率從始值下滑 (或上滑)至終值。始值一般為 50Hz，變化終值不能設(shè)置太小，因為一般裝置都有一個固有的“閉鎖頻率”，頻率太低了，裝置將會被閉鎖不出口。

注意：做該試驗時頻率變化前延時一般不能太小，以使保護(hù)有足夠時間解除閉鎖狀態(tài)。

dv/dt 閉鎖：

這個測試頁與上文中的“df/dt 閉鎖”很相似，區(qū)別在于每輪測試變化的是 dv/dt 值。下面只對它們的不同點做介紹。

dv/dt 測試范圍：

測試“dv/dt 閉鎖值”時在此范圍內(nèi)逐點進(jìn)行試探測試，每次測試時電壓都從電壓變化始值下滑至終值，下滑的 dv/dt 值在該范圍內(nèi)逐點變化，試探至某一輪試驗如果保護(hù)動作，則測出 dv/dt 閉鎖的邊界值。因為裝置在大于整定的dV/dt 閉鎖值時處于閉鎖狀態(tài)，所以，一般變化始值應(yīng)設(shè)置為大于裝置整定的閉鎖值，變化終值應(yīng)設(shè)置為小于裝置整定的閉鎖值。即試驗從裝置不動作做到動作，從而測出裝置的 dv/dt閉鎖值。

電壓變化范圍：

為了模擬電壓下降的過程，一般應(yīng)設(shè)電壓的“變化始值”天子“變化終值”。同時，為了保證低周裝置不因低電壓而閉鎖，因此設(shè)置的電壓“變化終值”應(yīng)大于裝置定值菜單中整定的低電壓閉鎖值。測試時 df/dt 值在此測試單元里頻率總是按所設(shè)置的 df/dt 變化，因此設(shè)置 df/dt 時，應(yīng)保證其值小于裝置所整定的 df/dt閉鎖值。

低電壓閉鎖：

該頁與上文中的“df/dt 閉鎖”和“dv/dt 閉鎖”相似。下面僅介紹不同點。電壓測試范圍測試時電壓在此范圍內(nèi)逐點進(jìn)行試探測試，每輪測試時頻率變化，但電壓固定為某一值。電壓值從始值逐漸增加，至某一值時裝置解除閉鎖正確動作，則該值即為低電壓閉鎖邊界值由于裝置在電壓小于閉鎖值時處于閉鎖狀態(tài)，故般變化始值應(yīng)設(shè)置為小手裝置整定的閉鎖值，變化終值應(yīng)設(shè)置為大于裝置整定的閉鎖值。即試驗從裝置不動作到動作，從而測出裝置的低電壓閉鎖值。

低電流閉鎖：